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RT CT-05B X射線微米分辨率測試卡,微米技術(shù)實現(xiàn)了具有 16 種不同寬度(3 至 50μm)的高精度線對分辨率測試卡。 當今,微焦點成為主流的 X 射線光束尺寸,而分辨率測試卡則是調(diào)整、設置、檢查和維護 X 射線系統(tǒng)的必要工具。
日本JIMA RT CT-05B X射線微米分辨率測試卡
微米技術(shù)實現(xiàn)了具有 16 種不同寬度(3 至 50μm)的高精度線對分辨率測試卡。 當今,微焦點成為主流的 X 射線光束尺寸,而分辨率測試卡則是調(diào)整、設置、檢查和維護 X 射線系統(tǒng)的必要工具。
RT CT-05B X射線微米分辨率測試卡
規(guī)格尺寸:40 x 30 mm, 3mm 厚度
硅基:8 x 8 mm, 0.2mm 厚度
吸收材料:金,厚度≥1.0μm
保護膜:鋁蒸汽保護膜,厚度 0.1mm
線數(shù):3 線(只有 3-10μm:6 線)
線條寬度(線條與間距寬度相同):
T 型布局 3、4、5、6、7、8、9、10μm;
I型布局 15、20、25、30、35、40、45、50μm
線對寬度公差:±10%
工作溫度:+10℃至+70℃
RT CT-05B X射線微米分辨率測試卡
規(guī)格尺寸:40 x 30 mm, 3mm 厚度
硅基:8 x 8 mm, 0.2mm 厚度
吸收材料:金,厚度≥1.0μm
保護膜:鋁蒸汽保護膜,厚度 0.1mm
線數(shù):3 線(只有 3-10μm:6 線)
線條寬度(線條與間距寬度相同):
T 型布局 3、4、5、6、7、8、9、10μm;
I型布局 15、20、25、30、35、40、45、50μm
線對寬度公差:±10%
工作溫度:+10℃至+70℃
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